Introduction
国际测试技术研讨会(ISTM)已经成功的举办了六届，会议论文集均被EI 或ISTP 收录。为了进一步提高测试技术行业的学术水平，扩大国际间的学术交流，我会将于2007 年8 月召开第七届国际测试技术研讨会，欢迎大家投稿, 并届时光临会议。
Call for paper
Important date
2006-12-31
Abstract submission deadline
2007-03-15
Draft paper submission deadline
Submission Topics
1.本次会议征文范围:
*测试理论及应用
*声与超声测量
*ADC、DAC 与数据采集
*人工智能与神经网络
*电磁测量
*环境测量
*流场测试与显示
*图像与信息处理
*激光与光纤
*机械测量
*微电子机械系统和纳机电系统（MEMS 和NEMS）
*微波测量
*噪声与振动测量
*非破坏性测量
*在线检测
*遥感与遥测
*机器人技术
*传感器与阵列执行器
*工业自动化
*控制理论与技术
*自动校准与测试
*其它
2． 应征稿件要求:
1) 论文作者需先提供300～500 字左右的论文摘要（英文）, 于
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Important Date
-
Conference Date
Aug 05
2007
toAug 08
2007
-
Dec 31 2006
Abstract Submission Deadline
-
Mar 15 2007
Draft paper submission deadline
-
Aug 08 2007
Registration deadline
Sponsored By
中国兵工学会,中国高等教育学会
Organized By
中国兵工学会测试技术专业委员会,中国高等教育学会仪器科学及测控技术专业委员会,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,电子测试技术国防重点实验室（太原分部),中北大学电子与计算机科学技术学院
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