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Introduction
由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学主办的“2014 第五届国际测试自动化与仪器仪表学术会议”将于2014年9月在中国北京举办。会议旨在为自动化测试与仪器领域的专家学者、科研人员、技术工程师搭建了解测试测量领域国际前沿技术的平台，增强国内学术界、产业界同国际同行间的交流和合作。届时来自世界各地的代表们将欢聚一堂，探讨本领域科技创新、行业发展趋势、热点技术应用、交流学术成果，增进相互间的了解和沟通。 在此，我们诚挚地邀请您，踊跃投稿并出席此届会议，与世界各地同仁交流国际化测试和仪器仪表技术的最新成果。
Call for paper

Important date

2014-04-30
Abstract submission deadline
2014-05-30
Draft paper submission deadline

Submission Topics

征文范围 基础理论与前沿技术 现代仪器科学的基础理论与方法学 自动化测试与仪器仪表的基础理论 自动化测试系统与总线技术 现代误差理论与数据处理方法 过程控制理论与产品质量测试 信息理论与仪器仪表系统设计 信号与图像处理 数据采集与处理 微弱信号处理技术 数据挖掘及信息融合技术 人工智能技术在仪器仪表中的应用 数字化图像处理的理论与方法 云计算技术及应用 系统运行状态监测、故障诊断及预测 状态监测及故障诊断技术 趋势预测与早期故障
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Important Date

  • Conference Date

    Sep 23

    2014

    to

    Sep 26

    2014

  • Apr 30 2014

    Abstract Submission Deadline

  • May 30 2014

    Draft paper submission deadline

  • Sep 26 2014

    Registration deadline

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