Call for paper 〔OPEN〕

My submissions

〔CLOSED〕
Registration 〔OPEN〕

My tickets

〔CLOSED〕
Introduction
微电子技术已成为当代技术革命的核心。微电子技术的发展，离不开计量与测试。当前，微电子器件的发展呈现规模愈来愈大、结构愈来愈复杂、功能愈来愈强大的特点，使微电子器件参数以及参数测量设备的计量与测试面临极大的挑战。在我国科技创新的形势下，迫切需要加强学术界与工业界的交流和沟通，使我国拥有自己的核心技术。长期以来，我国科技工业出于对产品质量和量值准确可靠的严格要求，逐步在微电子计量测试方面形成了自身特色，拥有了一批先进的计量测试标准和技术成果。为了共同提高我国微电子计量与测试技术水平，拟于2008年10月15～16日在武汉召开第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
Call for paper

Important date

2008-07-15
Draft paper submission deadline

Submission Topics

征文范围（不限于以下内容） 微电子计量 微电子测试 计量标准与计量器具研究 量值溯源与量传体系研究 量值传递与管理技术研究 微电子元器件测试系统与参数的检定与校准技术 标准样片制备与应用技术 测量不确定度分析 基于虚拟仪器的计量技术研究 计量保障技术研究 内建自测试（BIST）技术 可测试性设计（DFT）技术 SOC测试 IDDQ测试 DSP测试 单片机测试 FPGA测试 纳米芯片技术测试 生物芯片测试　 微电子测试设备 微电子测试开发技术 测试设备体系结构 测试组件分析 测试适配器设计技术 测试
Submit Comment
Verify Code Change Another
All Comments
Important Date

  • Conference Date

    Oct 15

    2008

    to

    Oct 16

    2008

  • Jul 15 2008

    Draft paper submission deadline

  • Oct 16 2008

    Registration deadline

Sponsored By
中船重工第七〇九研究所
Supported By
中船重工第七〇九研究所
Contact Information
Login to view full contact details
Previous Conferences