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Introduction
国际测试技术研讨会(ISTM)已经成功的举办了七届，会议论文集均被EI 或ISTP 收录。为了进一步提高测试技术行业的学术水平，扩大国际间的学术交流，我会将于2009 年8-9月在中国重庆召开第八届国际测试技术研讨会（ISTM2009），欢迎大家投稿, 并届时光临会议
Call for paper

Important date

2009-03-15
Abstract submission deadline
2009-05-15
Draft paper submission deadline

Submission Topics

1. 本次会议征文范围: *测试理论及应用 *声与超声测量 *ADC、DAC 与数据采集 *人工智能与神经网络 *电磁测量 *环境测量 *流场测试与显示 *图像与信息处理 *激光与光纤 *机械测量 * MEMS 和NEMS *微波测量 *噪声与振动测量 *非破坏性测量 *在线检测 *遥感与遥测 *机器人技术
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Important Date

  • Aug 15

    2009

    Conference Date

  • Mar 15 2009

    Abstract Submission Deadline

  • May 15 2009

    Draft paper submission deadline

  • Aug 15 2009

    Registration deadline

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中国兵工学会 中国高等教育学会
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中国兵工学会测试技术专业委员会
中国高等教育学会仪器科学及测控技术专业委员会 仪器科学与动态测试教育部重点实验室
电子测试技术国防重点实验室 中北大学电子与计算机科学技术学院
新型微纳器件与系统技术国家重点学科实验室
微纳系统与新材料技术国际合作研发中心
光电技术与系统教育部重点实验室
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