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Introduction
多谱图像处理与模式识别国际学术会议是国际光学工程学会（SPIE）与中国联合组织的国际学术会议，已成功召开了五届（1998.武汉；2001.武汉；2003.北京；2005.武汉；2007.武汉），在学术届有一定的影响。继第五届会议在武汉取得圆满成功之后，第六届SPIE多谱图像处理与模式识别国际学术会议计划于2009年10月30日在宜昌三峡大坝酒店举行。大会将为从事多谱图像处理与模式识别领域研究的专家、教授、工程技术人员和研究生提供一个相互学习和交流的国际性论坛。为了提高会议的学术水平，会议将特邀国内外知名专家就本领域前沿作专题报告。
Call for paper

Important date

2009-04-01
Abstract submission deadline
2009-08-10
Draft paper submission deadline

Submission Topics

征文范围： 1.多谱图像获取 红外成像 微波成像 雷达和激光雷达成像 超声波成像 高光谱与超谱、医学成像 2.多谱图像处理 红外图像处理 微波图像处理 雷达和激光雷达图像处理 超声波图像处理 高光谱与超谱、医学图像处理 3.自动目标识别与图像分析技术 图像滤波 小波与分形分析 边缘检测 图像分割 图像特征提取 目标识别与跟踪 图像序列分析 图像检索 数据融合与知识发掘 4.模式识别与计算机视觉 分类技术 神经网络 定标 立体视觉 Shape from X 3D建模与重建 5.图像的并行处理 算法
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Important Date

  • Conference Date

    Oct 30

    2009

    to

    Nov 01

    2009

  • Apr 01 2009

    Abstract Submission Deadline

  • Aug 10 2009

    Draft paper submission deadline

  • Nov 01 2009

    Registration deadline

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