Focus on Microscopy 2010(FOM2009)

FOM年度系列会议起源于对上世纪80年代中期发展起来的三维成像共聚焦显微镜技术和相关的三维图像处理方法。迅速发展的光电技术，如飞秒激光器，高灵敏度光探测器，以及新的荧光染色方法和对三维、四维图像的分析处理方法都大大推动了光学显微镜的发展。非线性光学显微术，如多光子激发荧光显微术，时分微分光术，二次谐波以及相干反斯托克斯拉曼等技术使分子组成级别的成像变为可能。高分辨率光学显微术，包括近场扫描光学显微术，4Pi共焦显微术和扫描探针显微术现在已经成为了推动光学显微镜到达纳米级别的重要研究课题。 FOM年度会议旨在反映并促进时下技术的发展。会议为开发商和相关领域科研人员提供最有效的交汇点，并为在生物信息学，纳米生物学和生物工程的交叉领域提供值得特别关注的有效信息以及推动信息传播。会议期间的科技展览将会展示近期在显微技术及相关技术的发展情况。 2010年FOM会议将会于2010年3月28日至3月31日在中国上海举行。该会也将是以下会议的继续： 第23届 显微学三维图像处理国际会议 第22届 共聚焦显微学国际会议